利用ECP技术测定正构烷烃在5A分子筛上的吸附等温线

来源:中国凹凸棒土网    01-29 09:20
本文采用 ECP(Elution By Characteristic Point) 技术, 对正构烷烃(CS-C10)在5A分子筛上的吸附等温线,实验温度为168℃-281℃,压力为0-120mmHg.实验无论从方法和测定数据上都填补了国内的空白,为快速测定吸附等温线提供了确实可行的方法.  

    doi:
    10.3969/j.issn.1008-7109.2000.04.008
    关键词:
    吸附等温线 正构烷烃 分子筛
    作者:
    许莉勇
    Author:
    Xu Liyong
    作者单位:
    浙江医药职业技术学院,浙江,宁波,315010
    刊名:
    宁波高等专科学校学报
    Journal:
    JOURNAL OF NINGBO COLLEGE
    年,卷(期):
    2000, 12(4)
    所属期刊栏目:
    理论与探讨
    分类号:
    O6
    在线出版日期:
    2004年01月08日
    页数:
    4
    页码:
    34-36,39

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